使用單物鏡主動(dòng)式相位掃描3D測量技術(shù),觀察和測量使用同一個(gè)鏡頭即可,即:在發(fā)現(xiàn)缺陷后,可以直接拍照獲取測量用的圖片,注意探頭端部要盡量靠近待測表面,拍攝圖像能夠清晰顯示缺陷始末,然后根據(jù)缺陷類型選擇合適的測量方式。下面我們介紹本文的重點(diǎn):通過點(diǎn)云圖確定放置光標(biāo)點(diǎn)的有效性。
缺陷測量不管選用哪種測量方式,需要在特征位置處放置光標(biāo)點(diǎn),例如:測量裂紋長度,可以在裂紋兩端放置光標(biāo)點(diǎn),測量面積則可以用若干光標(biāo)點(diǎn)圍住待測區(qū)域。擅用點(diǎn)云圖和點(diǎn)云色度深度圖,可以驗(yàn)證、檢查所放置光標(biāo)點(diǎn)是否正確、得當(dāng),是否因錯(cuò)覺造成缺陷特征點(diǎn)誤判。
使用進(jìn)口內(nèi)窺鏡檢測某民航發(fā)動(dòng)機(jī)的過程中,發(fā)現(xiàn)葉片損傷后,檢測人員可以通過調(diào)用3D點(diǎn)云模型,自行檢查光標(biāo)點(diǎn)放的位置是否在當(dāng)前葉片上?還是放在了機(jī)匣上或者附近相鄰的下一級葉片上。在下圖中不難看出,垂線明顯不垂直于葉片前緣,通過調(diào)用3D點(diǎn)云圖可以發(fā)現(xiàn),確定線的第二點(diǎn)并沒有放在當(dāng)前葉片上,而是放在了下一級的轉(zhuǎn)子葉片上。檢測人員及時(shí)地糾正了光標(biāo)點(diǎn)的位置,獲得了準(zhǔn)確而有效的測量結(jié)果。
使用單物鏡主動(dòng)式相位掃描3D測量技術(shù),觀察和測量使用同一個(gè)鏡頭即可,即:在發(fā)現(xiàn)缺陷后,可以直接拍照獲取測量用的圖片,注意探頭端部要盡量靠近待測表面,拍攝圖像能夠清晰顯示缺陷始末,然后根據(jù)缺陷類型選擇合適的測量方式。
缺陷測量不管選用哪種測量方式,需要在特征位置處放置光標(biāo)點(diǎn),例如:測量裂紋長度,可以在裂紋兩端放置光標(biāo)點(diǎn),測量面積則可以用若干光標(biāo)點(diǎn)圍住待測區(qū)域。擅用點(diǎn)云圖和點(diǎn)云色度深度圖,可以驗(yàn)證、檢查所放置光標(biāo)點(diǎn)是否正確、得當(dāng),是否因錯(cuò)覺造成缺陷特征點(diǎn)誤判。
綜上內(nèi)容就是工業(yè)內(nèi)窺鏡搭載3D測量技術(shù)的優(yōu)勢,希望對大家有幫助。