當(dāng)前位置：
使用單物鏡主動(dòng)式相位掃描3D測(cè)量技術(shù)，觀察和測(cè)量使用同一個(gè)鏡頭即可，即:在發(fā)現(xiàn)缺陷后，可以直接拍照獲取測(cè)量用的圖片，注意探頭端部要盡量靠近待測(cè)表面，拍攝圖像能夠清晰顯示缺陷始末，然后根據(jù)缺陷類(lèi)型選擇合適的測(cè)量方式。下面我們介紹本文的重要點(diǎn):通過(guò)點(diǎn)云圖確定放置光標(biāo)點(diǎn)的有效性。
缺陷測(cè)量不管選用哪種測(cè)量方式，需要在特征位置處放置光標(biāo)點(diǎn)，例如:測(cè)量裂紋長(zhǎng)度，可以在裂紋兩端放置光標(biāo)點(diǎn)，測(cè)量面積則可以用若干光標(biāo)點(diǎn)圍住待測(cè)區(qū)域。擅用點(diǎn)云圖和點(diǎn)云色度深度圖，可以驗(yàn)證、檢查所放置光標(biāo)點(diǎn)是否正確、得當(dāng)，是否因錯(cuò)覺(jué)造成缺陷特征點(diǎn)誤判。
使用單物鏡主動(dòng)式相位掃描3D測(cè)量技術(shù)，觀察和測(cè)量使用同一個(gè)鏡頭即可，即:在發(fā)現(xiàn)缺陷后，可以直接拍照獲取測(cè)量用的圖片，注意探頭端部要盡量靠近待測(cè)表面，拍攝圖像能夠清晰顯示缺陷始末，然后根據(jù)缺陷類(lèi)型選擇合適的測(cè)量方式。
缺陷測(cè)量不管選用哪種測(cè)量方式，需要在特征位置處放置光標(biāo)點(diǎn)，例如:測(cè)量裂紋長(zhǎng)度，可以在裂紋兩端放置光標(biāo)點(diǎn)，測(cè)量面積則可以用若干光標(biāo)點(diǎn)圍住待測(cè)區(qū)域。擅用點(diǎn)云圖和點(diǎn)云色度深度圖，可以驗(yàn)證、檢查所放置光標(biāo)點(diǎn)是否正確、得當(dāng)，是否因錯(cuò)覺(jué)造成缺陷特征點(diǎn)誤判。
綜上內(nèi)容就是工業(yè)內(nèi)窺鏡搭載3D測(cè)量技術(shù)的優(yōu)勢(shì)，希望對(duì)大家有幫助。 以上文章來(lái)源于網(wǎng)絡(luò)：由鄭州九泰科技有限公司小編整理，內(nèi)容如有侵權(quán)請(qǐng)聯(lián)系刪除!
